Machine Vision Inspection Systems, Machine Learning-Based Approaches
€213,47€228,69-6%
Pašlaik nav noliktavāAtstājiet savu e-pasta adresi, un mēs jums paziņosim, tiklīdz grāmata atkal būs pieejama (parasti 3-4 nedēļu laikā).
14 dienu atgriešanas garantijaPārdomājāt? Pasūtījumu varat atcelt jebkurā brīdī vai to atgriezt 14 dienu laikā. Atgriešanas noteikumi
Par grāmatu
Machine Vision Inspection Systems, Machine Learning-Based Approaches by Muthukumaran Malarvel, Soumya Ranjan Nayak, Prasant Kumar Pattnaik, Surya Narayan Panda.
Published by Wiley & Sons, Limited, John, (2021), Hardback, 352 pages.
| Autors | Muthukumaran Malarvel |
|---|---|
| Izdevējs | John Wiley & Sons Inc |
| Izdošanas gads | 2021 m. |
| Valoda | Angļu |
| Lappuses | 352 psl. |
| Formāts | Cietajos vākos |
| Izdevums | Volume 2 |
| ISBN | 9781119786092 |