High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
€95,93
Временно нет на складеОставьте адрес электронной почты, и мы сообщим, как только книга появится, обычно в течение 3-4 недель.
14‑дневная гарантия возвратаПередумали? Вы можете отменить заказ в любое время или оформить возврат в течение 14 дней. Политика возврата
О книге
High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography by D. Keith Bowen, Brian K. Tanner.
Published by Taylor & Francis Group, (2019), Paperback, 264 pages.
Topics: X-ray crystallography, X-rays, diffraction, Crystals.
| Автор | D. Keith Bowen |
|---|---|
| Издательство | Taylor & Francis Ltd |
| Издано | 2019 m. |
| Язык | английский |
| Страницы | 264 psl. |
| Формат | Мягкая обложка |
| ISBN | 9780367400637 |
