Electron Microscopy and Analysis
€110,73
Временно нет на складеОставьте адрес электронной почты, и мы сообщим, как только книга появится, обычно в течение 3-4 недель.
14‑дневная гарантия возвратаПередумали? Вы можете отменить заказ в любое время или оформить возврат в течение 14 дней. Политика возврата
О книге
A guide to scanning and transmission microscopes and to the analytical techniques based on them. It covers the techniques of electron energy loss spectroscopy and energy dispersive X-ray analysis. It compares electron microscopic techniques to many of the competing physical investigative techniques available.
| Автор | Peter J. Goodhew |
|---|---|
| Издательство | Taylor & Francis Ltd |
| Издано | 2000 m. |
| Язык | английский |
| Страницы | 264 psl. |
| Формат | Мягкая обложка |
| Жанр | Matemātika |
| Издание | 3 ed |
| ISBN | 9780748409686 |
