Advanced Materials Characterization

Name: Advanced Materials Characterization
Brand: Taylor & Francis Ltd
Price: 67.77 EUR
Availability: PreOrder
Author: Ch Sateesh Kumar
ISBN: 9781032375113

Мягкая обложка2024 m.130 стр. Доставка через 3-4 недели

€67,77

Временно нет на складеОставьте адрес электронной почты, и мы сообщим, как только книга появится, обычно в течение 3-4 недель.

14‑дневная гарантия возвратаПередумали? Вы можете отменить заказ в любое время или оформить возврат в течение 14 дней. Политика возврата

О книге

The book covers various methods of characterization of advanced materials commonly used in engineering including understanding of the working principle and applicability of devices. Major instruments covered include X-Ray Diffraction, NSOM Raman, X-Ray Photo Spectroscopy, UV-VIS- NIR Spectrosphotometer, FTIR Spectroscopy, and so forth.

Автор	Ch Sateesh Kumar
Издательство	Taylor & Francis Ltd
Издано	2024 m.
Язык	английский
Страницы	130 psl.
Формат	Мягкая обложка
ISBN	9781032375113